Статьиhttps://dspace.lgpu.org//handle/123456789/462026-04-17T19:57:09Z2026-04-17T19:57:09ZAbinitio расчет фононных частот с учётом трёхчастичного взаимодействия для ГЦК-NE. - 2022.Горбенко, Е. Е.Пилипенко, Е. А.Ткачева, А. О.https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/70332025-12-11T08:11:22Z2022-11-15T00:00:00ZAbinitio расчет фононных частот с учётом трёхчастичного взаимодействия для ГЦК-NE. - 2022.
Горбенко, Е. Е.; Пилипенко, Е. А.; Ткачева, А. О.
Представлен abinitio расчет фононные частот кристаллического Ne на основе неэмпирического короткодействующего потенциала отталкивания с учетом трехчастичного взаимодействия и деформации электронных оболочек атомов дипольного типа в парном и трехчастичном приближениях. Показано, что в фононные частотах вклад трехчастичных сил за счет перекрытия электронных оболочек соседних атомов мал даже при больших давлениях. А учёт деформации электронных оболочек атома приводит к «размягчению» продольной моды в точках L и Х при больших сжатиях.
2022-11-15T00:00:00ZМетоды решения обратной задачи эллипсометрии. - 2022.Техтелев, Ю. В.Черняков, В. Е.https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/70322025-12-11T08:10:16Z2022-11-15T00:00:00ZМетоды решения обратной задачи эллипсометрии. - 2022.
Техтелев, Ю. В.; Черняков, В. Е.
В статье рассматриваются методы обработки результатов эллипсометрических измерений для исследований тонкослойных поглощающих и прозрачных покрытий различной структуры Предложен модифицированный метод Малена-Ведама для определения оптических параметров поглощаю- щих пленок. Для прозрачные пленок на прозрачные подложках предлагаются оптимизационные методы, основанные на минимизации целевой функции.
2022-11-15T00:00:00ZЭллипсометрия пленки Sr0,5 Ba0,5 Nb2O6 на кристаллической подложке MgO (110). - 2021.Техтелев, Ю. В.Чижов, Р. Г.Жидель, К. М.Кара-Мурза, С. В.Павленко, А. В.Сильчева, А. Г.https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/69642025-06-25T06:34:33Z2022-11-15T00:00:00ZЭллипсометрия пленки Sr0,5 Ba0,5 Nb2O6 на кристаллической подложке MgO (110). - 2021.
Техтелев, Ю. В.; Чижов, Р. Г.; Жидель, К. М.; Кара-Мурза, С. В.; Павленко, А. В.; Сильчева, А. Г.
Эллипсометрическим методом исследована пленка Sr0,5Ba0,5Nb2O6 (SBN-50) на монокристаллической подложке MgO(110). При использовании модели, учитывающей анизотропию пленки определены коэффициенты преломления n0 и ne , базовая толщина пленки, толщина поверхностного слоя и коэффициент объемного заполнения поверхностного слоя материалом пленки. Рассмотрены условия применимости изотропной модели пленки для интерпретации результатов измерений.
2022-11-15T00:00:00ZФормирование исследовательской компетентности учащихся 7-9 классов с углубленным изучением физики. - 2021.Безверхний, А. Л.Грицких, А. В.https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/69632025-06-25T06:34:57Z2022-11-15T00:00:00ZФормирование исследовательской компетентности учащихся 7-9 классов с углубленным изучением физики. - 2021.
Безверхний, А. Л.; Грицких, А. В.
В работе рассматриваются идеи развития творческих способностей учащихся, раскрываются возможности повышения эффективности лабораторного эксперимента в организации исследовательской работы учащихся в классах с углубленным изучением физики.
2022-11-15T00:00:00Z