Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/6964
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorТехтелев, Ю. В.-
dc.contributor.authorЧижов, Р. Г.-
dc.contributor.authorЖидель, К. М.-
dc.contributor.authorКара-Мурза, С. В.-
dc.contributor.authorПавленко, А. В.-
dc.contributor.authorСильчева, А. Г.-
dc.date.accessioned2025-04-22T09:42:16Z-
dc.date.available2025-04-22T09:42:16Z-
dc.date.issued2022-11-15-
dc.identifier.urihttps://dspace.lgpu.org//handle/123456789/6964-
dc.description.abstractЭллипсометрическим методом исследована пленка Sr0,5Ba0,5Nb2O6 (SBN-50) на монокристаллической подложке MgO(110). При использовании модели, учитывающей анизотропию пленки определены коэффициенты преломления n0 и ne , базовая толщина пленки, толщина поверхностного слоя и коэффициент объемного заполнения поверхностного слоя материалом пленки. Рассмотрены условия применимости изотропной модели пленки для интерпретации результатов измерений.ru
dc.language.isootherru
dc.subjectфизикаru
dc.subjectэллипсометрияru
dc.titleЭллипсометрия пленки Sr0,5 Ba0,5 Nb2O6 на кристаллической подложке MgO (110). - 2021.ru
dc.typeBookru
Располагается в коллекциях:Статьи

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
8. LFPM-2021 Техтелев.pdf2,62 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.