Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/6964
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorТехтелев, Ю.В.-
dc.contributor.authorЧижов, Р.Г.-
dc.contributor.authorЖидель, К.М.-
dc.contributor.authorКара-Мурза, С.В.-
dc.contributor.authorПавленко, А.В.-
dc.contributor.authorСильчева, А.Г.-
dc.date.accessioned2025-04-22T09:42:16Z-
dc.date.available2025-04-22T09:42:16Z-
dc.date.issued2022-11-15-
dc.identifier.urihttps://dspace.lgpu.org//handle/123456789/6964-
dc.description.abstractЭллипсометрическим методом исследована пленка Sr0,5Ba0,5Nb2O6 (SBN-50) на монокристаллической подложке MgO(110). При использовании модели, учитывающей анизотропию пленки определены коэффициенты преломления n0 и ne , базовая толщина пленки, толщина поверхностного слоя и коэффициент объемного заполнения поверхностного слоя материалом пленки. Рассмотрены условия применимости изотропной модели пленки для интерпретации результатов измерений.ru
dc.language.isootherru
dc.subjectфизикаru
dc.subjectэллипсометрияru
dc.titleЭллипсометрия пленки Sr0,5 Ba0,5 Nb2O6 на кристаллической подложке MgO (110)ru
dc.typeBookru
Располагается в коллекциях:Статьи

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
8. LFPM-2021 Техтелев.pdf2,62 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.