Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/6964
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Техтелев, Ю.В. | - |
dc.contributor.author | Чижов, Р.Г. | - |
dc.contributor.author | Жидель, К.М. | - |
dc.contributor.author | Кара-Мурза, С.В. | - |
dc.contributor.author | Павленко, А.В. | - |
dc.contributor.author | Сильчева, А.Г. | - |
dc.date.accessioned | 2025-04-22T09:42:16Z | - |
dc.date.available | 2025-04-22T09:42:16Z | - |
dc.date.issued | 2022-11-15 | - |
dc.identifier.uri | https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/6964 | - |
dc.description.abstract | Эллипсометрическим методом исследована пленка Sr0,5Ba0,5Nb2O6 (SBN-50) на монокристаллической подложке MgO(110). При использовании модели, учитывающей анизотропию пленки определены коэффициенты преломления n0 и ne , базовая толщина пленки, толщина поверхностного слоя и коэффициент объемного заполнения поверхностного слоя материалом пленки. Рассмотрены условия применимости изотропной модели пленки для интерпретации результатов измерений. | ru |
dc.language.iso | other | ru |
dc.subject | физика | ru |
dc.subject | эллипсометрия | ru |
dc.title | Эллипсометрия пленки Sr0,5 Ba0,5 Nb2O6 на кристаллической подложке MgO (110) | ru |
dc.type | Book | ru |
Располагается в коллекциях: | Статьи |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
8. LFPM-2021 Техтелев.pdf | 2,62 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.