Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/6964
Название: Эллипсометрия пленки Sr0,5 Ba0,5 Nb2O6 на кристаллической подложке MgO (110)
Авторы: Техтелев, Ю.В.
Чижов, Р.Г.
Жидель, К.М.
Кара-Мурза, С.В.
Павленко, А.В.
Сильчева, А.Г.
Ключевые слова: физика
эллипсометрия
Дата публикации: 15-ноя-2022
Краткий осмотр (реферат): Эллипсометрическим методом исследована пленка Sr0,5Ba0,5Nb2O6 (SBN-50) на монокристаллической подложке MgO(110). При использовании модели, учитывающей анизотропию пленки определены коэффициенты преломления n0 и ne , базовая толщина пленки, толщина поверхностного слоя и коэффициент объемного заполнения поверхностного слоя материалом пленки. Рассмотрены условия применимости изотропной модели пленки для интерпретации результатов измерений.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/6964
Располагается в коллекциях:Статьи

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
8. LFPM-2021 Техтелев.pdf2,62 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.