Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/6964
Название: | Эллипсометрия пленки Sr0,5 Ba0,5 Nb2O6 на кристаллической подложке MgO (110) |
Авторы: | Техтелев, Ю.В. Чижов, Р.Г. Жидель, К.М. Кара-Мурза, С.В. Павленко, А.В. Сильчева, А.Г. |
Ключевые слова: | физика эллипсометрия |
Дата публикации: | 15-ноя-2022 |
Краткий осмотр (реферат): | Эллипсометрическим методом исследована пленка Sr0,5Ba0,5Nb2O6 (SBN-50) на монокристаллической подложке MgO(110). При использовании модели, учитывающей анизотропию пленки определены коэффициенты преломления n0 и ne , базовая толщина пленки, толщина поверхностного слоя и коэффициент объемного заполнения поверхностного слоя материалом пленки. Рассмотрены условия применимости изотропной модели пленки для интерпретации результатов измерений. |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/6964 |
Располагается в коллекциях: | Статьи |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
8. LFPM-2021 Техтелев.pdf | 2,62 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.