Разработка способа моделирования дефектных фотонных кристаллов с заданными свойствами

Молчанова, Е.С.; Техтелев, Ю.В.; Кура-Мурза, С.В.; Сильчева, А.Г.

Главная))0)
→
Институт физико-математического образования, информационных и обслуживающих технологий
→
Статьи
→
Просмотр элемента

Разработка способа моделирования дефектных фотонных кристаллов с заданными свойствами

Молчанова, Е.С.; Техтелев, Ю.В.; Кура-Мурза, С.В.; Сильчева, А.Г.

URI: https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/6949

Дата: 2022-11-15

Аннотации:

Предложен способ моделирования дефектных фотонных кристаллов с наперед заданными свойствами - шириной запретной зоны и ее центральной длиной волны. Способ основан на использовании матричного метода расчета коэффициентов пропускания и отражения в многослойных наноструктурах с учетом вклада материала подложки микроскопической толщины. Приведены результаты компьютерного моделирования дефектных фотонных кристаллов с различными оптическими характеристиками.

Показать полную информацию