Разработка способа моделирования дефектных фотонных кристаллов с заданными свойствами

Молчанова, Е.С.; Техтелев, Ю.В.; Кура-Мурза, С.В.; Сильчева, А.Г.

Главная))0)
→
Институт физико-математического образования, информационных и обслуживающих технологий
→
Статьи
→
Просмотр элемента

dc.contributor.author	Молчанова, Е.С.
dc.contributor.author	Техтелев, Ю.В.
dc.contributor.author	Кура-Мурза, С.В.
dc.contributor.author	Сильчева, А.Г.
dc.date.accessioned	2025-04-01T08:30:54Z
dc.date.available	2025-04-01T08:30:54Z
dc.date.issued	2022-11-15
dc.identifier.uri	https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/6949
dc.description.abstract	Предложен способ моделирования дефектных фотонных кристаллов с наперед заданными свойствами - шириной запретной зоны и ее центральной длиной волны. Способ основан на использовании матричного метода расчета коэффициентов пропускания и отражения в многослойных наноструктурах с учетом вклада материала подложки микроскопической толщины. Приведены результаты компьютерного моделирования дефектных фотонных кристаллов с различными оптическими характеристиками.	ru
dc.language.iso	other	ru
dc.subject	физика	ru
dc.subject	моделирование	ru
dc.title	Разработка способа моделирования дефектных фотонных кристаллов с заданными свойствами	ru
dc.type	Book	ru