Техтелев, Ю. В.; Чижов, Р. Г.; Жидель, К. М.; Кара-Мурза, С. В.; Павленко, А. В.; Сильчева, А. Г.
(2022-11-15)
Эллипсометрическим методом исследована пленка Sr0,5Ba0,5Nb2O6 (SBN-50) на монокристаллической подложке MgO(110). При использовании модели, учитывающей анизотропию пленки определены коэффициенты преломления n0 и ne , базовая ...