Эллипсометрия пленки Sr0,5 Ba0,5 Nb2O6 на кристаллической подложке MgO (110)

dc.contributor.author	Техтелев, Ю.В.
dc.contributor.author	Чижов, Р.Г.
dc.contributor.author	Жидель, К.М.
dc.contributor.author	Кара-Мурза, С.В.
dc.contributor.author	Павленко, А.В.
dc.contributor.author	Сильчева, А.Г.
dc.date.accessioned	2025-04-22T09:42:16Z
dc.date.available	2025-04-22T09:42:16Z
dc.date.issued	2022-11-15
dc.identifier.uri	https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/6964
dc.description.abstract	Эллипсометрическим методом исследована пленка Sr0,5Ba0,5Nb2O6 (SBN-50) на монокристаллической подложке MgO(110). При использовании модели, учитывающей анизотропию пленки определены коэффициенты преломления n0 и ne , базовая толщина пленки, толщина поверхностного слоя и коэффициент объемного заполнения поверхностного слоя материалом пленки. Рассмотрены условия применимости изотропной модели пленки для интерпретации результатов измерений.	ru
dc.language.iso	other	ru
dc.subject	физика	ru
dc.subject	эллипсометрия	ru
dc.title	Эллипсометрия пленки Sr0,5 Ba0,5 Nb2O6 на кристаллической подложке MgO (110)	ru
dc.type	Book	ru