Показать сокращенную информацию
dc.contributor.author | Техтелев, Ю.В. | |
dc.contributor.author | Черняков, В.Е. | |
dc.date.accessioned | 2025-05-06T07:53:51Z | |
dc.date.available | 2025-05-06T07:53:51Z | |
dc.date.issued | 2022-11-15 | |
dc.identifier.uri | https://dspace.lgpu.org//handle/123456789/7032 | |
dc.description.abstract | В статье рассматриваются методы обработки результатов эллипсометрических измерений для исследований тонкослойных поглощающих и прозрачных покрытий различной структуры Предложен модифицированный метод Малена-Ведама для определения оптических параметров поглощаю- щих пленок. Для прозрачные пленок на прозрачные подложках предлагаются оптимизационные методы, основанные на минимизации целевой функции. | ru |
dc.language.iso | other | ru |
dc.subject | эллипсометрия | ru |
dc.subject | обратная задача | ru |
dc.subject | фаза | ru |
dc.subject | коэффициент пропускания | ru |
dc.title | Методы решения обратной задачи эллипсометрии. - 2022 | ru |
dc.type | Article | ru |